1.兩維光學(xué)測(cè)頭
中心光源時(shí)放大倍數(shù)的高度效應(yīng)或表面傾斜效應(yīng)
高度方向尺寸擴(kuò)展,放大倍數(shù)發(fā)生變化,邊緣在平面上兩維坐標(biāo)值會(huì)偏移,表面傾斜或光軸方向?yàn)閺澢螤钜矔?huì)六生類(lèi)似的效應(yīng),改進(jìn)的辦法為不用點(diǎn)軸測(cè)光源而用平行光(改焦鏡頭系統(tǒng)),或作適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償.
照明方式(背景還是前景光)
影響探測(cè)誤差大小,例如背景光情況下,高的邊緣影響邊緣的位置測(cè)量,前置光對(duì)圓滑邊緣的位置測(cè)量會(huì)產(chǎn)生偏移.
被測(cè)物體的特性
被測(cè)表面情況,粗糙度、顏色等,
欲探測(cè)邊緣的質(zhì)量,圓角等
測(cè)頭引起的誤差:
人為誤關(guān),十字線用肉眼判斷帶不不可忽略的人為誤差,還可能十字線平面與被測(cè)物體平面不平行而帶不斷的視差.
點(diǎn)或環(huán)式測(cè)頭身身的標(biāo)準(zhǔn)不好而帶來(lái)誤差.
欲探測(cè)邊緣在平面內(nèi)的半徑,若被測(cè)對(duì)象的曲率相對(duì)點(diǎn)測(cè)頭光點(diǎn)半徑不可忽略,則應(yīng)對(duì)數(shù)據(jù)修正.
光電探測(cè)器的局部不均勻特征,造成二維的探測(cè)誤差
局部或隨時(shí)間變化的不良照明
帶圖像處理的測(cè)頭系統(tǒng)的放大倍數(shù)及畸變均應(yīng)校準(zhǔn),影像坐標(biāo)系統(tǒng)相對(duì)于零件坐標(biāo)系統(tǒng)的扭曲,應(yīng)有要求,因?yàn)樗绊憘鞲衅髯鴺?biāo)系到零件坐標(biāo)系的轉(zhuǎn)換.
2.三維光學(xué)測(cè)頭
三角形原理激光:表面明暗的突變,突跳的臺(tái)階,傾斜的表面或曲面以及直接反射光都會(huì)導(dǎo)致誤差.
視覺(jué)聚集傳感器,表成過(guò)于光滑,太亮,傾斜的表面或曲面.